PCB/PCBA失效分析檢測報告雙資質實驗室
發布日期 :2024-11-19 16:46訪問:1次發布IP:113.104.190.234編號:11232236
詳細介紹 PCB/PCBA失靈說明 伴隨著電子產品密度高的化及電子行業的無鉛化,PCB及PCBA新產品的技術實力、質量標準也面臨著嚴峻的考驗,PCB的設計和生產制造及拼裝時需要更加嚴格工藝與原料的操縱。現階段因為仍然處于技術以及工藝技術調整期,用戶對PCB制造及拼裝的認知還有很大差別,因此類似走電、引路(配電線路、孔)、電焊焊接欠佳、爆板分層次什么的無效經常產生,常造成經銷商和用戶之間質量責任糾紛案件,因此造成了很嚴重的財產損失。根據對PCB及PCBA的無效狀況開展失靈說明,通過一系列剖析認證,找到無效緣故,發掘失效機理,對提升產品質量,改善生產工藝流程,訴訟無效安全事故有重要作用。 服務目標 印制電路板以及部件(PCB&PCBA)是電子產品關鍵部件, PCB&PCBA穩定性立即取決于電子產品穩定性。為了確保和提升電子產品質量與穩定性,對無效進行全面理化分析,確定無效的內在機理,進而針對性地明確提出改善方案。 失靈說明實際意義 1. 協助制造商掌握產品品質情況,對加工工藝分析報告及點評,提升改善商品研發方案及生產工藝流程; 2. 查清電子產品組裝中無效直接原因,給予高效的電子產品組裝現場工藝改進措施,降低成本; 3. 提升良品率和使用穩定性,減少維護費用,提高企業品牌競爭力; 4. 確立造成設備失靈的過錯方,為司法仲裁提供參考。 分析過的PCB/PCBA類型 剛度印制電路板、柔性印制電路板、剛撓融合板、金屬基板 通訊類PCBA、照明燈具類PCBA 常見失靈說明方式方法 成分檢測: 顯微鏡紅外分析(Micro-FTIR) 掃描儀光學顯微鏡及能譜分析(SEM/EDS) 俄歇電子能譜儀(AES) 飛行時間二次正離子質譜儀器(TOF-SIMS) 熱分析技術性: 差示掃描量熱法(DSC) 熱機械設備剖析(TMA) 熱重分析(TGA) 動態性熱機械設備剖析(DMA) 傳熱系數(恒定熱氣法、激光器閃射法) 正離子潔凈度檢測: NaCl劑量法 人體陰陽離子濃度檢測 應力應變曲線**測量和分析: 熱膨脹檢測(激光法) 應力應變曲線片(物理學粘貼法) 毀滅性檢驗: 金相檢驗 上色及滲透檢測 聚焦離子束剖析(FIB) 正離子碾磨(CP) 高質量分析技術: X射線高質量剖析 電氣性能檢測和分析 掃描儀聲學材料光學顯微鏡(C-SAM) 網絡熱點探測與*準定位 相關分類 |
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